专利名称：半导体参数分析方法及其系统专利类型：发明专利
发明人：许铭真,谭长华,何燕东,卫建林,解冰,刘晓卫申请号：CN00100121.3申请日：20000112公开号：CN1261205A公开日：20000726
摘要：本发明涉及一种半导体器件参数比例差值算符分析方法及其系统。先通过半导体参数测试仪器测量完整的半导体器件Ⅰ－Ⅴ输出特性,然后通过比例差值算符分析软件系统对上述Ⅰ－Ⅴ特性进行比例差值处理,得到相应的比例差值Ⅰ－Ⅴ函数特性和半导体参数。与传统的拟合法或外推法相比,提高了精度,缩短了测试程序,明显地提高了工效。可应用于半导体参数信息处理领域。
申请人：北京大学
地址：100871 北京市海淀区中关村北京大学
国籍：CN
代理机构：北京大学专利事务所
代理人：余长江
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