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质量控制系统、质量控制装置以及质量控制方法[发明专利]

来源:华拓网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:质量控制系统、质量控制装置以及质量控制方法专利类型:发明专利

发明人:里永哲一,高野昌泰,松田典之,濑田昭子,足立康二,安

川薰

申请号:CN200910205573.7申请日:20091016公开号:CN101794106A公开日:20100804

摘要:本发明涉及质量控制系统、质量控制装置和质量控制方法。质量控制方法包括:从已经在电子设备中出现的故障的时序分布中,提取故障出现的第一状态特征;指定与故障相关的包含在电子设备中的一个或多个部件;从提供指定部件的每个供应商的相应使用率的另一时序分布中,提取部件的第二特征;以及根据提取的第一特征与提取的第二特征之间的相关性,来指定一个或多个提供了故障相关部件的供应商。

申请人:富士施乐株式会社

地址:日本东京

国籍:JP

代理机构:北京天昊联合知识产权代理有限公司

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